Có thể chẩn đoán bệnh tự kỷ bằng chụp cắt lớp não

Khoa học - Công nghệ - Ngày đăng : 13:39, 13/08/2010

Các chuyên gia thuộc trường Đại học King's College ở London (Anh)đã phát hiện phương pháp chụp cắt lớp não để chẩn đoán bệnh tự kỷ đơn giản vànhanh hơn nhiều so với phương pháp hiện nay.

Ảnh  minh họa


Trong công trình nghiên cứu, các chuyên gia đã tiến hành chụp cắt lớp (scan)não của 40 người và xác định được các dấu hiệu nhỏ mang tính quyết định đối vớichứng tự kỷ mà chỉ có máy tính mới phát hiện được. Trong số người này có 20người lớn mắc bệnh tự kỷ (ASD) và 20 người lớn khác không bị bệnh.

Ban đầu, các chuyên gia chẩn đoán bằng các phương pháp truyền thống, rồi thựchiện soi não MRI trong vòng 15 phút. Các hình ảnh thu được sẽ được tái cấu trúctrở lại lên không gian ba chiều rồi đưa vào máy tính để phần mềm tìm kiếm cáckhác biệt dù nhỏ nhưng đáng kể.

Nhờ vậy, các nhà nghiên cứu đã phát hiện được chứng tự kỷ với độ chính xác lên đếntrên 90%.

Giáo sư Declan Murphy, người giám sát công trình nghiên cứu này, cho biếtđiều máy tính có thể làm rất nhanh là kiểm tra xem bệnh nhân có bị tự kỷ haykhông và việc này có thể dẫn đến khả năng thực hiện soi não rộng rãi để tìmchứng tự kỷ.

Hiện các nhà khoa học đang xem xét để có thể áp dụng phương phápchẩn đoán này đối với trẻ em.

Theo ước tính, cứ 100 người lớn ở Anh, có một người mắc phải chứng tự kỷ, vớiđa số là nam giới. Bệnh có thể ở mức trung bình đến rất nguy hiểm và người mắcbệnh này thường thấy thế giới rất hỗn loạn và khó hiểu.

Theo phép chẩn đoán phổ biến hiện nay, cần có một nhóm chuyên gia, phân tíchhành vi và thực hiện một loạt các xét nghiệm đối với bệnh nhân.

(Theo TTXVN)